FT-3110 系列基于四点探针法，全自动测试半导体 / 薄膜材料的方块电阻、电阻率、薄层电阻。电阻精度≤0.3%，覆盖 10⁻⁶~2×10⁵Ω/□，支持 2-12 寸晶圆。PC 软件控制，探针压力 100-500g 可调，单点 / 五点 / 面扫描，生成 2D/3D 图谱，符合 ASTM F84、GB/T 1551，适配晶圆、太阳能电池、OLED、导电膜等。